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标准概要
硅外延片
Silicon epitaxial wafers
国家标准《硅外延片》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 浙江金瑞泓科技股份有限公司 、南京国盛电子有限公司 、上海合晶硅材料有限公司 、有色金属技术经济研究院 、有研半导体材料有限公司 。 主要起草人 张海英 、李慎重 、蒋玉龙 、骆红 、胡金枝 、卢立延 、李素青 。 GB/T 14139-2009 (全部代替) GB/T 14139-2019 现行
基础信息
标准号
GB/T 14139-2019
发布日期
2019-06-04
实施日期
2020-05-01
全部代替标准
GB/T 14139-2009
标准号
GB/T 14139-2019
发布日期
2019-06-04
实施日期
2020-05-01
全部代替标准
GB/T 14139-2009
起草单位
浙江金瑞泓科技股份有限公司
上海合晶硅材料有限公司
有研半导体材料有限公司
南京国盛电子有限公司
有色金属技术经济研究院
起草人
张海英
李慎重
胡金枝
卢立延
蒋玉龙
骆红
李素青
推荐标准
GB 12596-1990 工作基准试剂(容量) 碳酸钙
GB/T 14551-2003 动、植物中六六六和滴滴涕测定的气相色谱法
GB/T 32961-2016 转炉熔融热闷钢渣
GB/T 4333.5-2016 硅铁 硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 8432-1987 耐光色牢度试验仪用湿度控制标样
GB/T 11970-1997 加气混凝土体积密度、含水率和吸水率试验方法
GB/T 12535-1990 汽车起动性能试验方法
GB/T 39038-2020 船舶与海上技术 液化天然气加注干式快速接头技术要求
GB/T 38708-2020 国际贸易货物交付与货款支付的风险控制与防范
GB/T 21246-2007 埋地钢质管道阴极保护参数测量方法
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本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台,本内容目的仅在于分享交流与学习。
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