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标准概要
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC3(全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 、江苏联瑞新材料股份有限公司 、汉高华威电子有限公司 。 主要起草人 封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。 GB/T 36655-2018 现行
基础信息
标准号
GB/T 36655-2018
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
标准号
GB/T 36655-2018
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
起草单位
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
汉高华威电子有限公司
江苏联瑞新材料股份有限公司
起草人
封丽娟
李冰
曹家凯
吕福发
陈进
夏永生
阮建军
王松宪
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