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电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC3(全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 、江苏联瑞新材料股份有限公司 、汉高华威电子有限公司 。 主要起草人 封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。 GB/T 36655-2018 现行
  基础信息
标准号 GB/T 36655-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
标准号 GB/T 36655-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
  起草单位
  国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
  汉高华威电子有限公司
  江苏联瑞新材料股份有限公司
  起草人
  封丽娟
  李冰
  曹家凯
  吕福发
  陈进
  夏永生
  阮建军
  王松宪
  推荐标准
  申明
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