标准概要

半导体集成电路电压调整器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators

国家标准《半导体集成电路电压调整器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司。主要起草人王鸿儒、袁莹莹、邹臣、朱华、张宝华、张冰、陈志培、罗彬。 GB/T 4377-1996 （全部代替） GB/T 4377-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 4377-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

全部代替标准 GB/T 4377-1996

标准号 GB/T 4377-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

全部代替标准 GB/T 4377-1996

起草单位

圣邦微电子（北京）股份有限公司

成都振芯科技股份有限公司

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所

北京宇翔电子有限公司

起草人

王鸿儒

袁莹莹

张宝华

张冰

邹臣

朱华

陈志培

罗彬

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申明

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