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半导体集成电路 模拟开关测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
国家标准《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 、圣邦微电子股份有限公司 、西北工业大学 。 主要起草人 张冰 、李雷 、陈志培 、闫辉 、朱华 、黄德东 。 GB/T 14028-1992 (全部代替) GB/T 14028-2018 现行
  基础信息
标准号 GB/T 14028-2018
发布日期 2018-03-15
实施日期 2018-08-01
全部代替标准 GB/T 14028-1992
标准号 GB/T 14028-2018
发布日期 2018-03-15
实施日期 2018-08-01
全部代替标准 GB/T 14028-1992
  起草单位
  中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  西北工业大学
  圣邦微电子股份有限公司
  起草人
  张冰
  李雷
  朱华
  黄德东
  陈志培
  闫辉
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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