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标准概要
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
国家标准《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 、圣邦微电子股份有限公司 、西北工业大学 。 主要起草人 张冰 、李雷 、陈志培 、闫辉 、朱华 、黄德东 。 GB/T 14028-1992 (全部代替) GB/T 14028-2018 现行
基础信息
标准号
GB/T 14028-2018
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
全部代替标准
GB/T 14028-1992
标准号
GB/T 14028-2018
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
全部代替标准
GB/T 14028-1992
起草单位
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
西北工业大学
圣邦微电子股份有限公司
起草人
张冰
李雷
朱华
黄德东
陈志培
闫辉
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