标准概要

纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法

Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

国家标准《纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。主要起草人郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震。 GB/T 44075-2024 现行

基础信息

标准号 GB/T 44075-2024

发布日期 2024-05-28

实施日期 2024-12-01

标准号 GB/T 44075-2024

发布日期 2024-05-28

实施日期 2024-12-01

起草单位

苏州纳微科技有限公司

苏州大学

中国检验检疫科学研究院

苏州市计量测试院

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司

起草人

郭清华

朱建荣

方丹

姜江

王震

姚建林

袁亚仙

席广成

卢荻

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