标准概要

半导体激光器测试方法

Test methods of semiconductor lasers

国家标准《半导体激光器测试方法》由TC284（全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会）归口，主管部门为中国机械工业联合会。主要起草单位西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。主要起草人刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇等。 GB/T 31359-2015 现行

基础信息

起草单位

标准号

GB/T 31359-2015

发布日期

2015-02-04

实施日期

2015-08-01

标准类别

方法

中国标准分类号

L51

国际标准分类号

31.260 31 电子学 31.260 光电子学、激光设备

归口单位

全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会

执行单位

全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会

主管部门

中国机械工业联合会

起草人

西安炬光科技有限公司

中国科学院半导体研究所

武汉华工正源光子技术有限公司

中国科学院西安光学精密机械研究所

北京国科世纪激光技术有限公司

中国电子科技集团公司第十三研究所

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