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  标准概要

工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5:Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method
国家标准《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,TC243SC1(全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会)执行 ,主管部门为中国有色金属工业协会。 主要起草单位 昆明冶金研究院 、中国铝业股份有限公司山东分公司 、云南永昌硅业股份有限公司 、中国铝业股份有限公司郑州研究院 、通标标准技术服务有限公司 、包头铝业有限公司 、蓝星硅材料有限公司 、昆明冶研新材料股份有限公司 、云南出入境检验检疫局 。 主要起草人 刘英波 、赵德平 、杨海岸 、周杰 、杨毅等 。 GB/T 14849.5-2010 (全部代替) GB/T 14849.5-2014 现行
  基础信息
标准号 GB/T 14849.5-2014
发布日期 2014-12-05
实施日期 2015-05-01
全部代替标准 GB/T 14849.5-2010
标准号 GB/T 14849.5-2014
发布日期 2014-12-05
实施日期 2015-05-01
全部代替标准 GB/T 14849.5-2010
  起草单位
  昆明冶金研究院
  云南永昌硅业股份有限公司
  通标标准技术服务有限公司
  蓝星硅材料有限公司
  云南出入境检验检疫局
  中国铝业股份有限公司山东分公司
  中国铝业股份有限公司郑州研究院
  包头铝业有限公司
  昆明冶研新材料股份有限公司
  起草人
  刘英波
  赵德平
  杨毅
  杨海岸
  周杰
  推荐标准
  申明
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