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半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34:Power cycling
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 张艳杰 、崔万国 、裴选 。 GB/T 4937.34-2024 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-34:2010。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.34-2024
发布日期 2024-03-15
实施日期 2024-07-01
标准号 GB/T 4937.34-2024
发布日期 2024-03-15
实施日期 2024-07-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  起草人
  张艳杰
  崔万国
  裴选
  推荐标准
  申明
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