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红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所 。 主要起草人 丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。 GB/T 17444-1998 (全部代替) GB/T 17444-2013 现行
  基础信息
标准号 GB/T 17444-2013
发布日期 2013-11-12
实施日期 2014-04-15
全部代替标准 GB/T 17444-1998
标准号 GB/T 17444-2013
发布日期 2013-11-12
实施日期 2014-04-15
全部代替标准 GB/T 17444-1998
  起草单位
  中国科学院上海技术物理研究所
  起草人
  丁瑞军
  梁平治
  曹妩媚
  殷建军
  唐红兰
  陈洪雷
  推荐标准
  申明
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