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锗单晶电阻率直流四探针测量方法

Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe
国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 南京中锗科技股份有限公司 、北京国晶辉红外光学科技有限公司 、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 。 主要起草人 张莉萍 、焦欣文 、王学武 、普世坤 。 GB/T 26074-2010 现行
  基础信息
标准号 GB/T 26074-2010
发布日期 2011-01-10
实施日期 2011-10-01
标准号 GB/T 26074-2010
发布日期 2011-01-10
实施日期 2011-10-01
  起草单位
  南京中锗科技股份有限公司
  云南临沧鑫圆锗业股份有限公司
  北京国晶辉红外光学科技有限公司
  起草人
  张莉萍
  焦欣文
  王学武
  普世坤
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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