标准概要

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。主要起草人江莉、杨旭。 GB/T 1553-1997 （全部代替） GB/T 1553-2009 废止 GB/T 1553-2023 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 1553-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

废止日期 2024-03-01

全部代替标准 GB/T 1553-1997

标准号 GB/T 1553-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

废止日期 2024-03-01

全部代替标准 GB/T 1553-1997

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

江莉

杨旭

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申明

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