标准概要

宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。主要起草人赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁。 GB/T 43226-2023 现行

基础信息

标准号 GB/T 43226-2023

发布日期 2023-09-07

实施日期 2024-01-01

标准号 GB/T 43226-2023

发布日期 2023-09-07

实施日期 2024-01-01

起草单位

北京微电子技术研究所