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宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》 由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京微电子技术研究所 、中国航天电子技术研究院 。 主要起草人 赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。 GB/T 43227-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 43227-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
标准号 GB/T 43227-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
  起草单位
  北京微电子技术研究所
  中国航天电子技术研究院
  起草人
  赵元富
  姚全斌
  荆林晓
  李洪剑
  曹燕红
  刘思嘉
  林鹏荣
  冯小成
  付明洋
  林建京
  刘征宇
  推荐标准
  申明
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