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半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 陈海蓉 、崔波 。 GB/T 4937-1995 (部分代替) GB/T 4937.1-2006 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-1:2002。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.1-2006
发布日期 2006-08-23
实施日期 2007-02-01
部分代替标准 GB/T 4937-1995,
标准号 GB/T 4937.1-2006
发布日期 2006-08-23
实施日期 2007-02-01
部分代替标准 GB/T 4937-1995,
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  起草人
  陈海蓉
  崔波
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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