标准概要

半导体探测器X射线能谱仪通则

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所。主要起草人曾荣树、徐文东、马玉光、范逛等。 GB/T 20726-2006 废止 GB/T 20726-2015 （全部代替）本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15632:2002。采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。

基础信息

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所

起草人

曾荣树

徐文东

马玉光

范逛

推荐标准

GB/T 11067.3-1989 银化学分析方法火焰原子吸收光谱法测定铁、铅和铋量

GB/T 4074.4-2024 绕组线试验方法第4部分：化学性能

GB/T 39196-2020 废玻璃回收技术规范

GB/T 10058-2023 电梯技术条件

GB/T 18916.44-2019 取水定额第44部分：氨纶产品

GB/T 3625-1995 换热器及冷凝器用钛及钛合金管

GB/T 16554-2017 钻石分级

GB/T 10516-1989 硝酸磷肥颗粒平均抗压强度测定

GB/T 30914-2014 苯乙烯-异戊二烯-丁二烯橡胶（SIBR）微观结构的测定

GB/T 42417-2023 海湾水交换能力评价技术规程

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

日语标准