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集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求

Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-sawing process and evaluation
国家标准《集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所 、神州龙芯智能科技有限公司 。 主要起草人 袁世伟 、李守伟 、吉勇 、印琴 、任云飞 、郑卫华 。 GB/T 44796-2024 即将实施
  基础信息
标准号 GB/T 44796-2024
发布日期 2024-10-26
实施日期 2025-05-01
标准号 GB/T 44796-2024
发布日期 2024-10-26
实施日期 2025-05-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所
  神州龙芯智能科技有限公司
  起草人
  袁世伟
  李守伟
  任云飞
  郑卫华
  吉勇
  印琴
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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