标准概要

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。 GB/T 1553-1979 （全部代替） GB/T 5257-1985 （全部代替） GB/T 1553-1997 废止 GB/T 1553-2009 （全部代替）本标准等效采用ITU国际标准：ASTM F28:1990。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 1553-1997

发布日期 1997-06-03

实施日期 1997-12-01

废止日期 2010-06-01

标准号 GB/T 1553-1997

发布日期 1997-06-03

实施日期 1997-12-01

废止日期 2010-06-01

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法

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申明

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