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  标准概要

用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 机械电子工业部46所和4所 。 GB/T 14863-1993 废止 GB/T 14863-2013 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 14863-1993
发布日期 1993-12-30
实施日期 1994-10-01
废止日期 2014-08-15
标准号 GB/T 14863-1993
发布日期 1993-12-30
实施日期 1994-10-01
废止日期 2014-08-15
  起草单位
  机械电子工业部46所和4所
  起草人
  GB/T 14146-2021  硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
  GB/T 11068-2006  砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
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  YS/T 915-2013  蓄电池板栅用铅锑合金锭
  DB13/T 1213-2010  奶牛性控冻精输精和性控胚胎移植操作规程
  推荐标准
  申明
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