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标准概要
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
国家标准《硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中科院上海冶金研究所 。 GB/T 14144-1993 废止 GB/T 14144-2009 (全部代替) 本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F951:1987。 采标中文名称:。
基础信息
标准号
GB/T 14144-1993
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
废止日期
2010-06-01
标准号
GB/T 14144-1993
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
废止日期
2010-06-01
起草单位
中科院上海冶金研究所
起草人
GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
20233945-T-610 硅片径向电阻率变化测量方法
SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法
SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
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申明
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