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  标准概要

硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法

Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method
国家标准《硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所 、有色金属技术经济研究院有限责任公司 。 主要起草人 马农农 、何友琴 、李素青 、陈潇 、刘立娜 、何烜坤 。 GB/T 42263-2022 现行
  基础信息
标准号 GB/T 42263-2022
发布日期 2022-12-30
实施日期 2023-04-01
标准号 GB/T 42263-2022
发布日期 2022-12-30
实施日期 2023-04-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第四十六研究所
  有色金属技术经济研究院有限责任公司
  起草人
  马农农
  何友琴
  刘立娜
  何烜坤
  李素青
  陈潇
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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