标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位上海科技大学。 GB/T 5594.8-1985 废止 GB/T 5594.8-2015 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 5594.8-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

标准号 GB/T 5594.8-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

起草单位

上海科技大学

起草人

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

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申明

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定