标准概要

硅多晶真空区熔基硼检验方法

Polycrystalline silicon--Examination method--Vacuum zone-melting on boron

国家标准《硅多晶真空区熔基硼检验方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。 GB/T 4060-1983 废止 GB/T 4060-2007 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 4060-1983

发布日期 1983-12-20

实施日期 1984-12-01

废止日期 2008-02-01

标准号 GB/T 4060-1983

发布日期 1983-12-20

实施日期 1984-12-01

废止日期 2008-02-01

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法

GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法

GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程

GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法

JB/T 12981-2016 超硬磨料金属加工用多晶立方氮化硼

YS/T 724-2016 多晶硅用硅粉

SJ/T 11853-2022 正压悬浮区熔单晶硅炉

HG 2274-1992 钙镁磷肥用硅镁质半自熔性磷矿

JB/T 10553-2006 真空技术扩散硅压阻真空计

推荐标准

GB/T 15699-2013 烟草霜霉病检疫规程

GB/T 29244-2024 网络安全技术办公设备安全规范

GB/T 15839-1995 64～1920 kbit/s会议电视系统进网技术要求

GB/T 10722-2014 炭黑总表面积和外表面积的测定氮吸附法

GB/T 28544-2012 封装闪烁体光输出和固有分辨率的测量方法

GB 18564-2001 汽车运输液体危险货物常压容器（罐体）通用技术条件

GB/T 12750-1991 半导体集成电路分规范（不包括混合电路）（可供认证用）

GB/T 38769-2020 金属材料预裂纹夏比试样冲击加载断裂韧性的测定

GB/T 26805.5-2011 工业控制计算机系统软件　第5部分：用户软件文档

GB/T 28799.1-2020 冷热水用耐热聚乙烯（PE-RT）管道系统第1部分：总则

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签