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  标准概要

电子元器件失效率试验方法

Determination of failure rate of electronic elements and components
国家标准《电子元器件失效率试验方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 电子部四所 。 GB/T 1772-1979 废止
  基础信息
标准号 GB/T 1772-1979
发布日期 1979-09-25
实施日期 1980-03-01
废止日期 2004-10-14
标准号 GB/T 1772-1979
发布日期 1979-09-25
实施日期 1980-03-01
废止日期 2004-10-14
  起草单位
  电子部四所
  起草人
  20214730-T-339  电学元器件可靠性:失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
  GB/T 7289-2017  电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
  GB/T 5080.7-1986  设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
  20181779-T-339  可靠性试验 第7部分:恒定失效率和恒定失效强度的验证试验
  20204843-T-339  可靠性数据分析方法—两种恒定失效率和两个恒定失效密度(事件)的比较程序
  20204115-T-339  可靠性应力筛选-第2部分:电子元器件
  20233730-T-339  设备可靠性试验 第6部分:恒定失效率和恒定失效强度的有效性检验与估计试验
  GB/T 5080.6-1996  设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验
  20232032-T-491  空间环境 宇航用电子元器件空间环境效应模拟试验通用要求
  20210840-T-339  电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分:贮存
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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