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微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
国家标准《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 、中国航发北京航空材料研究院 。 主要起草人 柳得橹 、娄艳芝 。 GB/T 20724-2006 (全部代替) GB/T 20724-2021 现行
  基础信息
标准号 GB/T 20724-2021
发布日期 2021-12-31
实施日期 2022-07-01
全部代替标准 GB/T 20724-2006
标准号 GB/T 20724-2021
发布日期 2021-12-31
实施日期 2022-07-01
全部代替标准 GB/T 20724-2006
  起草单位
  北京科技大学
  中国航发北京航空材料研究院
  起草人
  柳得橹
  娄艳芝
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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